Mehr Sicherheit bei Integrationstests von E-Antrieben

Bei Funktions- und Integrationstests von Steuergeräten und zur frühen Fehlererkennung im Entwicklungsprozess setzt die Automobilbranche verstärkt auf Software-in-the-Loop (SiL) und Hardware-in-the-Loop (HiL)-Verfahren. Deutlich komplexer und sogar gefährlich werden diese Testreihen jedoch bei Steuergeräten für Elektroantrieb, deren Leistungsbauteile mit Hochspannung versorgt werden. Die Spezialisten von Berner & Mattner haben jetzt für einen deutschen Automobilhersteller einen Testprozess für E-Antriebe entwickelt, bei dem durch Simulation auf reale Hochspannungen weitgehend verzichtet werden kann.

Inhaltsverzeichnis

• Einführung
• Software als "Black Box"
• Steuergerät kombiniert Kleinsignale und Hochvolt-Leistungsbauteile
• Simulation ermöglicht Verzicht auf Hochspannung
• Entscheidend ist die Qualität des Simulationsmodells