Berner & Mattner mit neuen Releases auf der Automotive Testing Expo Europe 2011:

Entwicklungsbegleitende AUTOSAR-Softwaretests unter Windows

München, 10. Mai 2011 – Berner & Mattner stellt auf der Automotive Testing Expo Europe die neuen Produkt-Releases MESSINA 3.1 und CTE XL Professional 2.1 vor. In Halle 1, Stand 1537, der Messe Stuttgart können sich Testingenieurinnen und -ingenieure vom 17. bis zum 19. Mai 2011 vom stimmigen Gesamtkonzept - von der Spezifikation bis zum HiL-Prüfstand - überzeugen. Wichtigste Neuerungen: Der CTE XL Professional bietet ab sofort neben der systematischen Spezifikation und Generierung von Testfällen die einzigartige Möglichkeit des Requirement Tracings. MESSINA, die Plattform für SiL- und HiL-Tests, kann jetzt auch unter Windows ausgeführt werden. Zusätzlich bietet MESSINA eine einzigartige AUTOSAR-Test-RTE zur virtuellen Integration auf Basis von ARTOP.

Foto MESSINA CTE Konzept

Virtuelle Integration mit MESSINA und CTE

Veranstaltung


Automotive Testing Expo Europe 2011

Termin:
17. - 19. Mai 2011

Veranstaltungsort:
Messe Stuttgart

Veranstaltungsinformation

Bild Pfeil Pressemeldung (pdf, 49 KB)
Bild Pfeil Pressemeldung mit Bildern (rar, 148 KB)
 
Berner & Mattner